quartz-research-note/content/酸化亜鉛系トランジスタ.md

1.1 KiB
Raw Blame History

title tags
酸化亜鉛系トランジスタ
research
survey
semiconductor

Homemade Thin-Film Transistor Experiments

酸化亜鉛薄膜の形成と物性・デバイス応用(2019)

https://www.jstage.jst.go.jp/article/vss/62/7/62_20180376/_pdf/-char/ja

溶液法の説明ある

酢酸亜鉛とモノエタノ ールアミンを 2-メトキシエタノールに溶かした亜鉛濃度 0.3 mol/L のものを前駆体溶液とし使い酸化亜鉛薄膜を 形成した。前駆体溶液をガラス基板上にスピンコート塗布と中間乾燥を繰り返し,最終焼結を経て成膜が完了する。最終焼結温度を 300℃400℃500℃ と変化させて X 線回折測定を行った結果500℃で c 軸配向が確認さ れ多結晶膜が形成されていることが分かった。続けてトランジスタを試作するとc 軸配向が得られた場合に限りトランジスタ動作が確認された。

Direct Light Pattern Integration of Low-Temperature Solution-Processed All-Oxide Flexible Electronics

https://pubs.acs.org/doi/full/10.1021/nn504420r